یک تیم به رهبری پروفسور DU Jiangfeng ، شیعه Fazhan و پروفسور وانگ بله از دانشگاه علم و فناوری چین (USTC) از آکادمی علوم چین (CAS) پیشنهاد قوی electrometric روش استفاده مداوم و پویا واشدن (CDD) روش که در آن پیوسته رانندگی زمینه ارائه مغناطیسی-field-مقاوم در برابر لباس پوشیدن و قاب. مطالعه منتشر شده در Physical Review Letters on ژوئن 19.

بررسی خواص الکتریکی و درک پویایی در مقياس نانو تبدیل به قابل توجهی در توسعه مدرن دستگاه های الکترونیکی مانند نیمه هادی ترانزیستور و تراشه کوانتومی به ویژه هنگامی که از ویژگی های اندازه منقبض شده است به چند نانومتر.

نیتروژن-جای خالی (NV) در مرکز الماس اتمی در مقیاس چرخش سنسور نشان داده می شود جذاب برق سنج. بهره مند از درجا سازگاری با الماس مبتنی بر نیمه هادی دستگاه ها و پتانسیل الکتریکی-زمینه تصویربرداری با ترکیب اسکن تکنولوژی electrometry با استفاده از NV مرکز خواهد مزیت های مختلف سنجش و تصویربرداری برنامه های کاربردی. اما طبیعی آن حساسيت به میدان مغناطیسی زمین مانع موثر تشخیص میدان الکتریکی.

NV مرکز یک نقص در الماس که متشکل از یک substitutional نیتروژن و مجاور خالی. برجسته دستاوردهای NV مرکز بهره مندی از خواص قابل توجه آن از جمله مهمترین راحت حالت قطبش و بازخوانی توسط یک 532 نانومتر لیزر و انسجام زمان با توجه به چرخش خلوص محیط زیست است.

در این مطالعه محققان با استفاده از یک رمزی-مانند توالی در لباس پوشیدن و قاب برای اندازه گیری میدان الکتریکی. همچنین آنها را اندازه گیری dephasing از نزدیکی سطح مراکز NV (8 نانومتر عمیق از سطح الماس) به منظور تعيين سطح برق سر و صدا.

آنها نشان داده قوی روش نانو electrometry بر اساس چرخش سنسور در الماس. نسبت به electrometry با استفاده از یک nonaxial آهنربا زمینه روش خود را همان حساسيت به میدان الکتریکی و قوی تر به مغناطیسی سر و صدا. بنابراین بالاتر برقی-زمینه حساسیت دست یافتنی است.

علاوه بر خود electrometry است بیشتر قابل اجرا در حضور میدان مغناطیسی قوی inhomogeneity یا نوسان است که مطلوب برای برنامه های کاربردی با استفاده از نزدیکی سطح مراکز NV برای مثال خصوصیات multiferroic مواد.

آنها همچنین با استفاده از این روش برای مطالعه سر و صدا محیط در نزدیکی سطح مراکز NV. استثنای مغناطیسی نویز مشاهده کردند یک کمی رابطه بین dephasing نرخ NV مراکز و نسبی گذردهی دی الکتریک از سطح تحت پوشش مایعات.

این مطالعه کمک می کند تا درک بیشتر از محیط پر سر و صدا از نزدیکی سطح NV مراکز ضروری است که برای طیف گسترده ای از سنجش از برنامه های کاربردی ارائه می دهد و جالب راههای برای نانو دی الکتریک سنجش.

###

سلب مسئولیت: AAAS و EurekAlert! مسئول صحت اخبار منتشر شده به EurekAlert! با کمک موسسات و یا برای استفاده از هر گونه اطلاعات از طریق EurekAlert سیستم.

tinyurlis.gdu.nuclck.ruulvis.netshrtco.de